Prof. Dr. Jenő Gubicza

PhD., Dr.habil., DSc

photo

Department of Materials Physics
Eötvös Loránd University, Budapest

Address:  
Pázmány Péter sétány 1/A.
Budapest, Hungary
H-1117

Postal address: P.O.Box 32, H-1518, Hungary

Tel.: +36-1-372-2876
Fax.: +36-1-372-2811

e-mail:  jeno.gubicza at ttk.elte.hu

Curriculum vitae: in English, in Hungarian



Research

Research interest:

Indentation techniques
X-ray diffraction line profile analysis
Microstructure and mechanical properties of nanocrystalline materials

Publications

Books:

J. Gubicza: Defect Structure and Properties of Nanomaterials, 2nd and Extended Edition, Woodhead Publishing, an imprint of Elsevier, Duxford, UK, ISBN: 9780081019177 (2017)

Details: https://www.elsevier.com/books/defect-structure-in-nanomaterials/gubicza/978-0-08-101917-7

---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------

J. Gubicza: X-ray line profile analysis in Materials Science, IGI-Global, Hershey, PA, USA, ISBN: 978-1-4666-5852-3 (2014)

X-ray-line-profile-analysis-in-mater-sci

Details: http://www.igi-global.com/book/ray-line-profile-analysis-materials/94910

Review on this book:

"The author set out to provide a survey of the field of X-ray line profile analysis (XLPA) for the materials sciences.
The book covers basic and advanced XLPA, and attempts to fill in the gaps in the current literature.
From my perspective, the author has done a reasonably good job."

Joseph D. Ferrara, Ph.D., Chief Science Officer, Rigaku (published in the newsletter "The Bridge", Issue 12, June, 2014)

Errata
 
Acknowledgment

This is the only monograph in the market which summarizes the existing knowledge in the field of X-ray line profile analysis. A retired colleague of the author, who was unable to write the book, tried to hinder its publication due to his envy. This colleague sent false accusations about the author to the publisher (IGI-Global, USA). The author is grateful to the publisher for recognizing this situation and publishing this book.

(Ez a könyv ebben a témában az egyetlen összefoglaló mű, ezért hiánypótló az irodalomban. A szerző egyik nyugdíjas kollégája, mivel képtelen volt megírni a könyvet, irigységből rágalmaival a kiadást megpróbálta megakadályozni. A szerző hálás a kiadónak, hogy ezt felismerve a könyvet megjelentette.)


---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------

J. Gubicza: Defect structure in nanomaterials, Woodhead Publishing Ltd., Cambridge, UK, ISBN: 978-0-85709-206-9 (2012)

Defect_structure_nanomat

Details: http://store.elsevier.com/product.jsp?isbn=9780857092069&pagename=search

Book chapters:

T. Ungár, E. Schafler, J. Gubicza: Microstructure of Bulk Nanomaterials Determined by X-Ray Line Profile Analysis,
in the book entitled BULK NANOSTRUCTURED MATERIALS, eds.: M.J. Zehetbauer and Y.T. Zhu,
WILEY–VCH, (2009) pp. 361-386 (
ISBN: 978-3-527-31524-6)

frontpage                                                        backpage
BNM_elolapBNM_hatlap



J. Gubicza, J. Lendvai: Formation of quasicrystals in bulk metallic glasses and their effect on mechanical behavior,
in the book entitled: Quasicrystals: Types, Systems, and Techniques, Editor: Beth E. Puckermann,
Nova Science Publishers, Inc. Hauppauge, NY (2010), chapter 6, pp. 147-161 (ISBN: 978-1-61761-123-0).

frontpage                                                        backpage
QC_elolapQC_hatlap


List of independent citations

List of publications with number of references in the MTMT system of the Hungarian Academy of Sciences

Activity in PhD and DSc qualification processes

Research team

Former supervised students

Homepage of "Atomic structure of nanosize crystalline grains in diamond-SiC composites"

X-ray line profile analysis: a training course from basics to practice, May 23-25, 2011



Education

Chapter "Single-crystal X-ray diffraction" for "Applied Physical Methods Laboratory" (in hungarian)

Chapter "X-ray line profile analysis" for "Applied Physical Methods Laboratory" (in hungarian)

Chapter "X-ray diffraction" for "Advanced Experimental Methods Laboratory exercises" (in hungarian)

Chapter "Depth-sensing nano- and microindentation" for "Advanced Experimental Methods Laboratory exercises" (in hungarian)

Lists of topics for the examination "Lattice defects I" (in English)

Lists of topics for the examination "Lattice defects II" (in English)

Lists of topics for the examination "Bulk nanostructured materials" (in English)

Lists of topics for the examination "Diffraction methods in materials science I"  (in English)

Vizsgatematika a "Rácshibák I" című előadáshoz

Vizsgatematika a "Rácshibák II" című előadáshoz

Vizsgatematika a "Tömbi nanoszerkezetű anyagok" című előadáshoz

Vizsgatematika a "Diffrakciós módszerek az anyagtudományban I" című előadáshoz

Vizsgatematika a "Fizikai módszerek új anyagok előállítására" című előadáshoz

Vizsgatematika a "Bevezetés az anyagtudományba" című előadáshoz

Vizsgatematika a "Fejezetek az anyagtudományból és a szilárdtestfizikából" című előadáshoz

Vizsgatematika az "Alkalmazott statisztika" című előadáshoz

Ajánlott irodalom az "Alkalmazott statisztika" című előadáshoz:
Havancsák Károly: Mérési adatok kezelése és értékelése